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Análisis de estrés eléctrico en inversores fabricados con transistores de película delgada TFTs

Vargas Ortiz, Fernando
URI: http://hdl.handle.net/20.500.11799/109550
Fecha: 2020-06-27

Resumen:

En el presente trabajo se analiza el comportamiento del estrés eléctrico en Inversores de carga resistiva fabricados a partir de Transistores de Película delgada.

Descripción:

El presente es un trabajo de tesis de licenciatura en Ingeniería en computación

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Nombre: Analisis_de_estre ...
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  • Título
  • Análisis de estrés eléctrico en inversores fabricados con transistores de película delgada TFTs
  • Autor
  • Vargas Ortiz, Fernando
  • Director(es) de tesis, compilador(es) o coordinador(es)
  • García Lozano, Rodolfo Zola
  • Fecha de publicación
  • 2020-06-27
  • Editor
  • Universidad Autónoma del Estado de México
  • Tipo de documento
  • Tesis de Licenciatura
  • Palabras clave
  • Transistor
  • Inversor de carga resistiva
  • película delgada
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