Análisis de estrés eléctrico en inversores fabricados con transistores de película delgada TFTs

dc.contributor	García Lozano, Rodolfo Zola
dc.contributor.author	Vargas Ortiz, Fernando
dc.date.accessioned	2020-11-21T03:43:28Z
dc.date.available	2020-11-21T03:43:28Z
dc.date.issued	2020-06-27
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/20.500.11799/109550
dc.description	El presente es un trabajo de tesis de licenciatura en Ingeniería en computación	es
dc.description.abstract	En el presente trabajo se analiza el comportamiento del estrés eléctrico en Inversores de carga resistiva fabricados a partir de Transistores de Película delgada.	es
dc.language.iso	spa	es
dc.publisher	Universidad Autónoma del Estado de México	es
dc.rights	openAccess	es
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by/4.0	es
dc.subject	Transistor	es
dc.subject	Inversor de carga resistiva	es
dc.subject	película delgada	es
dc.subject.classification	INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA	es
dc.title	Análisis de estrés eléctrico en inversores fabricados con transistores de película delgada TFTs	es
dc.type	Tesis de Licenciatura	es
dc.provenance	Académica	es
dc.road	Verde	es
dc.organismo	Centro Universitario UAEM Ecatepec	es
dc.ambito	Nacional	es
dc.cve.CenCos	30601	es
dc.cve.progEstudios	38	es
dc.modalidad	Tesis	es

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Nombre: Analisis_de_estre ...

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Título
Análisis de estrés eléctrico en inversores fabricados con transistores de película delgada TFTs
Autor
Vargas Ortiz, Fernando
Director(es) de tesis, compilador(es) o coordinador(es)
García Lozano, Rodolfo Zola
Fecha de publicación
2020-06-27
Editor
Universidad Autónoma del Estado de México
Tipo de documento
Tesis de Licenciatura
Palabras clave
Transistor
Inversor de carga resistiva
película delgada

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